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基礎(chǔ)信息Product information

產(chǎn)品名稱:德國EPK MiniTest 2100 涂鍍層測厚儀

產(chǎn)品型號:

產(chǎn)品簡介:

德國EPK MiniTest 2100 涂鍍層測厚儀
德國EPK公司 MiniTest1100/2100/3100/4100測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
? 有色金屬上的絕緣覆層
? 絕緣基體上的有色金屬覆層

產(chǎn)品特性Product characteristics

 

德國EPK MiniTest 2100 涂鍍層測厚儀

深圳市歐野電子有限公司德國EPK一級代理

 

 

 

德國EPK(Elektrophysik)公司

MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀

德國EPK公司 MiniTest1100/2100/3100/4100測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

• 鋼鐵基體上的非磁性覆層
• 有色金屬上的絕緣覆層
• 絕緣基體上的有色金屬覆層

EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:

  MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
  所有型號均可配所有探頭;
  可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
  可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100技術(shù)特征:

 

 

  EPK涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100可選探頭參數(shù):

  所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
  N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
  FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

 

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
(凸/凹)

zui小測量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸



應(yīng)

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

  F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
  N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
  CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭

 

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
FN2
0~2000μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(O.1μm)
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(O.1μm)
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(O.1μm)
F2/90
0~2000μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
N2
0~2000μm,φ5mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(O.1μm)
N2/90
0~2000μm,φ5mm
磁性測頭, 尤其適合在管內(nèi)壁測量
N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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